能量色散熒光光譜儀外觀專利證書

能量色散熒光光譜儀（EDXRF）是一種基于X射線熒光（XRF）分析原理的先進儀器，能夠對元素周期表中鈉（Na）至鈾（U）范圍內的元素進行快速、無損檢測。它通過智能真空系統有效激發輕元素（如Si、P、S、Al、Mg）和高含量元素（如Cr、Ni、Mo），從而實現精確分析。這使得EDXRF光譜儀在合金成分檢測、全元素分析以及RoHS有害物質篩查等領域具有廣泛的應用價值。
EDXRF光譜儀的核心部件包括：
超薄窗X光管：產生高能X射線，激發樣品中的元素發出特征X射線。
FAST-SDD探測器：高靈敏度和高分辨率的探測器，能夠準確測量特征X射線的能量和強度。
數字多道處理系統：將探測器信號轉換為數字信號，并進行數據處理和分析。
這些核心部件協同工作，使得EDXRF光譜儀能夠實現ppm級至99.99%濃度的定量分析，滿足不同應用場景的需求。